X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片 品牌:美国calmetrics SAG系列 calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司,其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本电测)Thermo(热电)、Veeco、Micro Pioneer等生产制作标准样品。 应用:适用于Fischer(菲希尔)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本电测)、Thermo(热电)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray测厚仪(膜厚计) 产品规格: 银标片编号 规格说明 SILVER (Ag) 英制单位 公制单位 SAG4 4” 0.10m SAG10 10” 0.25m SAG40 40” 1.00m SAG80 80” 2.00m SAG200 200” 5.00m SAG400 400” 10.0m SAG800 800” 20.0m SAG1200 1200” 30.0m 特色:标准片A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好; 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片,并附有标准片厚度值证书. X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片 品牌:美国calmetrics SNIP系列 calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司,其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本电测)Thermo(热电)、Veeco、Micro Pioneer等生产制作标准样品。 应用:适用于Fischer(菲希尔)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本电测)、Thermo(热电)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray测厚仪(膜厚计)。 特色:标准片A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好; 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片,并附有标准片厚度值证书. NiP,8%P 英制单位 公制单位 SNIP100-92 100” 2.50m SNIP240-92 240” 6.00m SNIP360-92 360” 9.00m SNIP720-92 720” 18.0m 产品规格: X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片 品牌:美国calmetrics Ni/Cu型铜上镀镍标准片系列 calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司,其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本电测)Thermo(热电)、Veeco、Micro Pioneer等生产制作标准样品。 应用:适用于Fischer(菲希尔)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本电测)、Thermo(热电)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray测厚仪(膜厚计)。 特色:标准片A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好; 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片,并附有标准片厚度值证书. 可制作厚度:0.5-25um 以下为常见性厚度: CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um) CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um) CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um) CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um) CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um) CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um 美国Calmetrics XRF镀层标准片 每片厚度均通过美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)鉴定机构认证(有证书),其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。 应用 底材 可制作范围 Ag/Cu 铜 20-2000uin Au/KVR 可伐 1-300uin Au/Ni 镍 1-300uin Cd/Fe 铁 20-1200uin Cu/Fe 铁 20-1200uin Cr/Fe 铁 20-800uin Ni-P/Al 铝 20-800uin Ni-P/Cu 铜 20-800uin Ni-P/Fe 铁 20-800uin Ni-P/KVR 可伐 20-800uin Ni/Cu 铜 20-1000uin Ni/Fe 铁 20-1200uin Ni/Kvr 可伐 20-1000uin Pd/Ni 镍 5-250uin Rh/Ni 镍 4-200uin Sn/Cu 铜 40-2500uin Zn/Fe 铁 20-1300uin X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片 品牌:美国calmetrics SCU系列 calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司,其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本电测)Thermo(热电)、Veeco、Micro Pioneer等生产制作标准样品。 应用:适用于Fischer(菲希尔)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本电测)、Thermo(热电)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray测厚仪(膜厚计) 特色:标准片A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好; 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片,并附有标准片厚度值证书. 产品规格: 品牌:美国calmetrics 型号:0.1-35um 尺寸:3X2.5 材质:铜 用途:X荧光膜厚仪(测厚仪)校正仪器用 铜标片编号 规格说明 COPPER (Cu) 英制单位 公制单位 SCU4 4m" 0.10mm SCU10 10m" 0.25mm SCU20 20m" 0.50mm SCU40 40m" 1.00mm SCU80 80m" 2.00mm SCU200 200m" 5.00mm SCU400 400m" 10.0mm SCU800 800m" 20.0mm SCU1400 1400m" 35.0mm
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