x-ray 镀层测厚仪M1 ORA M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成,分析元素范围:原子序数22号(钛)以上的所有元素。 上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析,数分钟内可以得到结果。 样品尺寸可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测,采用光学显微镜进行准确定位。 采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多,分析结果越。可以检测含量在0.5%以上的元素 基于标样模型或无标样模型,可以鉴别和定量分析样品中的所有元素。准确度高,精度达到0.2wt%对于没有预想到的元素也能够进行分析。 黄金成色分析可以用K(开)或质量百分比(%)表示 珠宝、黄金、贵金属分析 珠宝与贵金属饰品的货币兼职不是主要由设计和制作人工决定、而是主要由合金中贵金属成分及宝石的种类和品质所决定。已知的集中合金分析方法,古老的为火练法,首先采用高精度高密度天秤秤重一块原始金属,然后通过不同步奏(氧化和溶解)去除非金属物质,后秤重余量。但是这方法很好使,而且需破坏样品,同时也产生很多有毒污染物和气体。 X射线荧光光谱仪是非基础和非破坏性分析,同时能够得到高度测试结果的分析方法 由于珠宝首饰件通常都非常的小,又有些是采用不同贵金属组合,X射线荧光光谱仪分析过程能采用仪器内的准直器将激发的X射线集中于一小点,闫策样品成分。 X射线荧光光谱仪测量可广泛适用于大量的黄金合金系列,可测量材料包括金、银、铜、钯、铂、铑等贵金属元素 黄金成分范围35%(8克拉/K)~(24克拉/K) 适用于:白金、黄金、铂合金、银合金,分析精度优于0.2% M1ORA是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪(μ-XRF),结构紧凑、占用空间小。 技术规格: 光源高性能微焦斑光管,钨靶,玻璃窗 电压、功率40KV、40W 探测器大面积正比计数器1100mm²感应面积 光斑尺寸0.3-1.0mm准直管(出厂时设定) 样品观察高分辨彩色系统,放大倍数20-40倍 样品台手动剪式样品升降台 定量分析基于标准样品的经验模型 基于基本参数法的无标准模型 电源:230V/500Hz,100W 尺寸:355×330×330mm 重量:26公斤
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