4287A简介
•1MHz~3GHz,以10kHz分档
•阻抗测量范围宽,从200mΩ到3kΩ
•在低试信号电平上具有优良的测量重复性
•基本精度为1%
•高速测量:10ms
安捷伦 4287A射频LCR测试仪在1 MHz~3 GHz频率范围可以提供、可靠和快速测量,以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同,采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行测量。
4287A生产率高、质量可靠
安捷伦 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度非常快。此外,在小测试电流(100mA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率,因为所需的取平均过程非常短。若干APC-7,SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用,从而无需制作专用夹具。
4287A技术指标
测量参数:|Z|,|Y|,L,C, R,D, Q, X,G,B,θ
测量电路形式:串联和并联
工作频率:1 MHz~3 GHz
频率分辨率:10 kHz
信号源特性:
振荡器电平:5mVrms~0.25Vrms(输出端开路)
电平显示单位:V,I,dBm
连接器:APC-3.5
输出阻抗(额定值):50Ω
触发:内部,外部,手动和GPIB
阻抗测量范围:200 mΩ~3 kΩ
基本测量精度:|Z|:1%;D:0.01
测量时间:10 ms
接口:GPIB,处理器接口
显示器:8.4英寸彩色LCD显示器
储存:内置HDD/FDD,备用SRAM存储器
4287A一般指标
工作温度/湿度:10~40℃/相对湿度15%~80%
预热时间:30分钟
电源要求:90V~132V,或198V~264V,47Hz~66Hz,500VA(值)
尺寸:主机:426mm(宽)×234mm(高)×446mm(长)
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